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- 光學(xué)傳遞函數(shù)(MTF)測(cè)量?jī)x
- 中心厚度測(cè)量?jī)x
- 中心偏差測(cè)量?jī)x(定心儀)
- 焦距測(cè)量?jī)x
- 測(cè)角儀
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- 相機(jī)模組設(shè)備
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- 折射率測(cè)量?jī)x
- 光模塊
- 弱吸收測(cè)試儀
- 高反射率測(cè)量?jī)x
- 生長(zhǎng)紋測(cè)試儀/紋影儀
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- 輪廓儀
- 拋光系統(tǒng)
產(chǎn)品中心
PRODUCT CENTER
生長(zhǎng)紋測(cè)試儀/紋影儀
生長(zhǎng)紋測(cè)試儀/紋影儀 GSM 50是一款專業(yè)用于測(cè)量透明固體、氣體、液體中因密度梯度導(dǎo)致的折射率變化的設(shè)備,通過先進(jìn)的紋影法技術(shù),將微小的折射率差異轉(zhuǎn)化為明顯的明暗對(duì)比,實(shí)現(xiàn)對(duì)被測(cè)物密度分布的精確觀測(cè)。
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